前言

开路与短路测试（OS测试，Open-Short Test）用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，同时避免与其他引脚或电源（地）发生短路。

这种测试能快速检测出被测物（DUT）是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚静电损坏以及制造缺陷等。此外，OS测试还能发现与测试配件相关的问题，比如ProbeCard或器件的Socket接触不良等。

测试方法

OS 测试的过程是借用对 VDD 和对地保护二极管进行的。一般有两种测试方法，一种是用 PMU 灌入电流测电压；一种是用功能测试的方法提供 VREF，形成动态负载电流再测电压的。

OS 测试 - 静态法

串行 / 并行静态法测试 OS，实际上就是灌入电流测电压，因为这个电流会让上下某个保护二极管发生正偏，所以可以通过检测正偏压降来测出开短路异常。

施加正电流使对电源二极管正偏的测试示意图如下：

测试流程如下：
将 DUT 所有引脚（包括电源和地）接地。
PMU 给引脚施加电流（约 100µA）。
检测引脚电压
高于 VOH（+1.5V）：Fail（Open）
低于 VOL（+0.2V）：Fail（Short）
其他区间（正偏电压，比如 0.65V）：Pass

施加负电流使对地二极管正偏的测试示意图如下：

测试流程如下：
将 DUT 所有引脚（包括电源和地）接地。
PMU 给引脚施加电流（约 -100µA）。
检测引脚电压
高于 VOH（-0.2V）：Fail（Short）
低于 VOL（-1.5V）：Fail（Open）
其他区间（正偏后的压降约 -0.65V）：Pass

由于PMU提供恒定电流，因此需要使用电压钳来限制开路引脚测试时可能产生的无限大电压。在将电压钳设定为3V时，那么测量对应的一个引脚处于开路状态，其测试结果将显示为3V。

这种方法适用于测试信号IO引脚，但不适用于测试电源引脚。尽管电源引脚也可以在开路条件下进行测试，但由于其内部结构不同，需要设置不同的测试限制。

综上所述，OS静态测试具有以下特点：

串行法：每次只测试一个引脚，步骤简单但效率较低，适用于引脚较少的被测物（DUT）。
并行法：需要测试系统配备 PPMU ，但存在无法检测相邻引脚短路的缺点。
- 解决方法是分两次测试，例如第一次测试 1357 引脚，第二次测试 2468 引脚。
测试一般通过施加电流并测量电压来进行测试。

ATE 测试及IC测试原理之 OS测试
芯片测试（一）O/S测试
半导体测试基础
《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》
《DC Test Theory》